電子元器件為什么要做振動(dòng)測(cè)試呢
一：為什么要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)？振動(dòng)試驗(yàn)的目的是什么？在檢測(cè)行業(yè)，檢測(cè)的項(xiàng)目不計(jì)其數(shù)，每一個(gè)檢測(cè)項(xiàng)目都有其存在的意義，就像氣候檢測(cè)、機(jī)械檢測(cè)一樣，今天我們就來(lái)了解一下，機(jī)械環(huán)境檢測(cè)項(xiàng)目中的振動(dòng)檢測(cè)，看看它對(duì)產(chǎn)品起到什么樣的作用。
二：成都電磁式振動(dòng)臺(tái)的目的是模擬一連串振動(dòng)現(xiàn)象，測(cè)試產(chǎn)品在壽命周期中，是否能承受運(yùn)輸或使用過(guò)程的振動(dòng)環(huán)境的考驗(yàn)，也能確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)和功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。振動(dòng)試驗(yàn)的精義在于確認(rèn)產(chǎn)品的可靠性及提前將不良品在出廠前篩檢出來(lái)，并評(píng)估其不良品的失效分析使其成為高水平，高可靠性的產(chǎn)品。
三：振動(dòng)測(cè)試約在四、五十年前開(kāi)始萌芽，理論建立時(shí)，并無(wú)助于人們相信它的重要性，直到二次大戰(zhàn)時(shí)，許多的飛行器、艦艇、車(chē)輛及器材在使用后意外的發(fā)現(xiàn)機(jī)件失靈的比例相當(dāng)高，經(jīng)研究的結(jié)果發(fā)現(xiàn)，大都由于其結(jié)構(gòu)無(wú)法承受其本身所產(chǎn)生的長(zhǎng)時(shí)間共振，或搭載物品承受運(yùn)送共振所引起之，元件松脫、崩裂、而致機(jī)件失靈甚而造成巨大損失，當(dāng)這項(xiàng)結(jié)果公布后，振動(dòng)測(cè)試才受到各界重視，紛紛投入大筆經(jīng)費(fèi)、人力去研究。爾后，對(duì)于振動(dòng)量測(cè)分析以至模擬分析的近代理論建立后，對(duì)振動(dòng)測(cè)試的方法及邏輯亦不斷改進(jìn)。尤其現(xiàn)今貨物的流通頻繁，使振動(dòng)測(cè)試更顯重要。
四：成都電磁式振動(dòng)臺(tái)的目的，為了了解產(chǎn)品的耐振壽命和性能指標(biāo)的穩(wěn)定性，錄找可能引起破壞或失效的薄弱環(huán)節(jié)，對(duì)系統(tǒng)在模擬實(shí)際環(huán)境的振動(dòng)、沖擊條件下進(jìn)行的考核試驗(yàn),同時(shí)也能確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)及功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。
五： 成都電磁式振動(dòng)臺(tái)振動(dòng)的效應(yīng)共計(jì)有：
1.結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度。
2.結(jié)合物的松脫。
3.保護(hù)材料的磨損。
4.零組件的破損。
5.電子組件之接觸不良。
6.電路短路及斷續(xù)不穩(wěn)。
7.各件之標(biāo)準(zhǔn)值偏移。
8.提早將不良件篩檢出。
9.找尋零件、結(jié)構(gòu)、包裝與運(yùn)送過(guò)程間之共振關(guān)系，改良其共振因素。
而振動(dòng)測(cè)試的程序，須評(píng)估確定試驗(yàn)規(guī)格夾具設(shè)計(jì)的真實(shí)性，測(cè)試過(guò)程中的功能檢查及最后試件的評(píng)估，檢討和建議。
六.成都電磁式振動(dòng)臺(tái)試驗(yàn)方法分類
定型產(chǎn)品的試驗(yàn)規(guī)范通常已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化，新產(chǎn)品要制定合適的試驗(yàn)方法。
試驗(yàn)方法分兩大類:①標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn),包括耐預(yù)定頻率試驗(yàn)、耐共振試驗(yàn)、正弦掃描試驗(yàn)、寬帶隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、聲振試驗(yàn)和運(yùn)輸試驗(yàn)等；
②非標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)，包括瞬態(tài)波形振動(dòng)試驗(yàn)、窄帶隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)、隨機(jī)波再現(xiàn)試驗(yàn)、正弦波和隨機(jī)波混合試驗(yàn)等。 |
