LED冷熱沖擊試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)主要包括GB/T 2423.22、IEC 60068-2-14、MIL-STD-810G和JIS Z 0237。
GB/T 2423.22是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，涉及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)中的溫度試驗(yàn)方法，包括冷熱沖擊試驗(yàn)。
IEC 60068-2-14是國(guó)際電工委員會(huì)制定的標(biāo)準(zhǔn)，用于評(píng)估電子元器件和設(shè)備在溫度變化下的性能。
MIL-STD-810G是美國(guó)國(guó)防標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了各種環(huán)境條件下的試驗(yàn)方法，包括冷熱沖擊試驗(yàn)。
JIS Z 0237是日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，針對(duì)材料和產(chǎn)品在冷熱沖擊情況下的性能進(jìn)行了規(guī)定。
這些標(biāo)準(zhǔn)為L(zhǎng)ED和其他電子產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗(yàn)提供了具體的測(cè)試方法和要求，旨在確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。選擇適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)取決于產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域和出口市場(chǎng)的具體要求
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